■論文
| 論文名：A Matched Expansion Probe Card for High Temperature LSI Testing |  論文(PDF) |
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掲載誌名：Proceedings of the 13th International Conference on Solid-States Sensors,Actuators and Microsystems. 発表日：2005.6 発表者：東北大学，メムス・コア |
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| 論文名：A Matched Expansion Probe Card for High Temperature LSI Testing | 論文(PDF) |
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掲載誌名：Proceedings of the 13th International Conference on Solid-States Sensors,Actuators and Microsystems. 発表日：2005.6 発表者：東北大学，メムス・コア |
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